Rückwandverdrahtungen (Backplanes) und Baugruppenträger (Racks) mit zigtausenden, elektrischen Verbindungen sind die Herzstücke moderner Telekommunikationsanlagen und EDV-Systeme. Fehler auf diesen Baugruppen sind im Funktionstest der Anlagen nicht, oder nur mit sehr großem Aufwand zu finden und zu beseitigen. Das Testen von Backplanes und Racks wird durch die ständig steigende Packungsdichte der Steckverbinder jedoch immer schwieriger und stößt an die Grenzen des mit herkömmlichen Systemen machbaren.

WEETECH Daisy-Chain Testsysteme machen es überflüssig, von jedem Stecker der Backplane auf die Ausgangsstecker eines Testsystems zu verdrahten. Daisy-Chain Cassetten nehmen die Schaltmatrix des Testsystems auf und sitzen direkt an den Steckern des Prüflings. Untereinander sind sie lediglich mit einer Steuerleitung von einer Cassette zur nächsten verbunden.

Der hohe Integrationsgrad der Testerelektronik ermöglicht es, dem Trend zu immer höherer Packungsdichte bei den Steckern zu folgen und sogar Stecker zu adaptieren, die mit herkömmlicher Kabeladaption nicht mehr getestet werden könnten.
Die Anpassung auf die Stecker des Prüflings erfolgt entweder über austauschbare Adapterköpfe oder steckerspezifische Cassetten.

WEETECH Backplane- und Racktestsysteme sind aufrüstbar in ihrem Automatisierungsgrad. Von Hand zu steckende Cassetten, halbautomatische und vollautomatische Systeme mit Anbindung an automatische Fertigungslinien, überall wird dieselbe Testerelektronik verwendet. Bei Anpassung an steigende Produktionszahlen können die Erstinvestitionen dadurch weiter genutzt werden.

Testsysteme sind heute keine Inseln mehr, sondern in komplexe Fertigungsabläufe eingebunden. Die Prüfprogramme für WEETECH Testsysteme werden über CAD-Daten generiert, die Ergebnisse werden dokumentiert und stehen für die weitere Verarbeitung im Netzwerk zur Verfügung. Bei den automatisierten Testlösungen übernimmt WEETECH die Einbindung in Fertigungslinien einschließlich Prüfguthandhabung, Sortierung und Markierung.